無狹(xiá)縫平(píng)場極紫(zǐ)外(wài)光譜儀maxLIGHT，采用(yòng)專(zhuān)有的(dí)無狹縫(féng)設(shè)計(jì)，實現(xiàn)了最大光收(shōu)集(jí)效率。其像(xiàng)差(chà)校正的平場(cháng)光譜覆蓋範圍為 1–200 nm，並(bìng)支持(chí)寬(kuān)光譜帶寬。

產品型號(hào)：

更新時(shí)間(jiān)：2026-06-23

廠商性質：代(dài)理(lǐ)商

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配件(jiàn) 實驗室(shì)級解決(jué)方(fāng)案(àn) 紫(zǐ)外光譜(pǔ)儀其他(tā): 高能光(guāng)源低溫(wēn)製(zhì)冷機(jī) 氣體分析(xī)儀(yí) 計數器光(guāng)源光學斬波器(qì) 鎖相放(fàng)大器近(jìn)紅外光(guāng)譜(pǔ)儀高(gāo)分(fēn)辨率影(yǐng)像光柵光譜(pǔ)儀(yí) 台式(shì)銣(rú)鐘(zhōng) 發(fā)生器拉曼/熒(yíng)光低溫(wēn)製(zhì)冷(lěng)係統(tǒng) 熒光(guāng)上(shàng)轉換係(xì)統納秒(miǎo)泵(bèng)浦探(tàn)測光譜(pǔ)儀熒光(guāng)光(guāng)譜測量係(xì)統(tǒng) 測(cè)量與測試儀器(qì) 中階梯光柵光(guāng)譜儀光(guāng)譜(pǔ)專(zhuān)用CCD 影(yǐng)像光(guāng)柵(zhà)光譜儀拉(lā)曼(màn)光譜測(cè)量係統

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紫(zǐ)外(wài)差(chà)分光(guāng)學(xué)吸收光譜(pǔ)儀的應用

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產(chǎn)品(pǐn)介(jiè)紹

無狹(xiá)縫平場極紫(zǐ)外光譜儀maxLIGHT：

· 平(píng)場(cháng)掠(lüè)入射光譜(pǔ)儀

· 專(zhuān)有無狹(xiá)縫設計(jì)，實現(xiàn)高效(xiào)率(shuài)

· 波長(cháng)範圍：1–200 nm

· 集成光束分(fēn)析(xī)儀(yí)（Beam Profiler）

· 模塊化，一(yī)體化交鑰匙設計

maxLIGHT 采用專有(yǒu)的無(wú)狹縫(féng)設計，實(shí)現了最大(dà)光收集(jí)效(xiào)率。其像差校正的平(píng)場光(guāng)譜(pǔ)覆蓋範(fàn)圍為 1–200 nm，並支持寬(kuān)光譜帶(dài)寬(kuān)，例(lì)如單塊(kuài)光(guāng)柵可覆蓋 5–80 nm 的波段範圍。

模(mó)塊化設計可適配多(duō)種實驗幾何結構和配(pèi)置(zhì)需求。maxLIGHT 配備集成(chéng)式狹縫支架，濾(lǜ)光(guāng)片(piàn)插入(rù)單元，以及(jí)電(diàn)動光(guāng)柵定位係統。

探(tàn)測(cè)器可選配置包括：

· XUV CCD 探測(cè)器

· MCP/CMOS 探測(cè)器(qì) —— 提供(gōng)最(zuì)寬(kuān)波(bō)長(cháng)覆(fù)蓋範圍，並支持門控(kòng)/增強型探測器

如需(xū)進一步(bù)匹配(pèi)您的實驗(yàn)需(xū)求，歡迎聯(lián)係我們進(jìn)行詳細討(tǎo)論。

此外，我們(mén)還(huán)可提供 maxLIGHT 光譜儀的(dí)定製化(huà)衍生版本。

無狹縫(féng)設(shè)計（No-slit Design）

HP Spectroscopy 專(zhuān)有的(dí)光(guāng)譜(pǔ)儀設計采用直接(jiē)源成像（Direct Source Imaging）方式，因(yīn)此無(wú)需使用(yòng)傳統的(dí)窄入射狹縫(féng)，從(cóng)而(ér)很大(dà)程度(dù)提升(shēng)光(guāng)收集效(xiào)率(shuài)。

與(yǔ)傳統光(guāng)譜儀結(jié)構相比，該(gāi)設(shè)計可(kě)使進入探(tàn)測器的(dí)光(guāng)通量提高約(yuē) 20倍。同時，這種(zhǒng)架構也顯著提(tí)升(shēng)了日(rì)常運(yùn)行的穩(wěn)定(dìng)性(xìng)和可靠性(xìng)。
無狹縫(féng)平場極紫外光(guāng)譜儀maxLIGHT 無狹(xiá)縫平場(cháng)極紫(zǐ)外(wài)光(guāng)譜儀maxLIGHT