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產品中心(xīn)激(jī)光與量(liáng)測(cè)鏡頭及(jí)光學元件(jiàn)測試設備(bèi)自(zì)動化(huà)傳函測(cè)試儀KALEO MTF
產(chǎn)品型(xíng)號(hào)：
更(gēng)新時(shí)間：2025-11-08
廠商(shāng)性質：代理商(shāng)
訪(fǎng)問(wèn)量：2989
服(fú)務熱(rè)綫(xiàn)（同微信）
產品(pǐn)分類(lèi)
自(zì)動(dòng)化傳函測試(shì)儀(yí)KALEO MTF可以全(quán)自(zì)動測試(shì)透鏡的傳遞函數(shù)，像差(chà)等(děng)品(pǐn)質，具備自(zì)動進樣，自(zì)動(dòng)對焦(jiāo)，自動(dòng)離軸測(cè)試等(děng)功能，是生(shēng)產綫小批量鏡頭QC/ 篩選的(dí)理(lǐ)想(xiǎng)設備。
測試功能：
l 在(zài)軸及離(lí)軸(zhóu)MTF
l 越(yuè)焦MTF
l 透過波麵畸變(biàn)（TWE）
l Zernike 係數，直(zhí)達高(gāo)階係數並(bìng)具備(bèi)逐階分析(xī)功(gōng)能(néng)
l 鏡(jìng)頭參數(shù)：EFL，F#
l OPD
l 像(xiàng)散，畸變，場曲，相(xiāng)對(duì)照(zhào)明(míng)
性能(néng)優勢：
l 單(dān)次采(cǎi)集測(cè)量(liáng)，無需標分板；
l 全(quán)自(zì)動測試
l 離(lí)軸測試(shì)無(wú)需再次(cì)準(zhǔn)直(zhí)
l 便(biàn)利快捷(jié)的準(zhǔn)直調試
l 自(zì)動對(duì)焦
l 手動/自動進樣
l 單(dān)孔(kǒng)/多孔鏡頭(tóu)托盤
l 高(gāo)性(xìng)價(jià)比(bǐ)
l 等同於(yú)幹(gān)涉(shè)儀的(dí)確(què)度(dù)
l 直達截止頻(pín)率的MTF測量；
l 多波長測(cè)試(shì)（標配RGB+IR）
l 高品質(zhì)準直光源(yuán)
l 多(duō)方位，多角(jiǎo)度測試(shì)
自(zì)動(dòng)化(huà)傳函測試(shì)儀KALEO MTF主要技術指(zhǐ)標：
在軸MTF | 精(jīng)度 <1% 可重復性 <0.5% |
離(lí)軸MTF | 精(jīng)度 <2% 可(kě)重(zhòng)復性 <1% |
MTF*高頻率(shuài) | 1000 cc/mm |
MTF精度(dù) | 短波(bō)及(jí)中波紅(hóng)外 ±0.02 / ±0.03 短波紅外(wài)及(jí)可見 ±0.01 / ±0.02 |
MTF可重復(fù)性 | 短波及中波紅外(wài) ±0.015 短波紅外(wài)及(jí)及可(kě)見(jiàn) ±0.01 |
EFL | 精度 1% 可(kě)重復性(xìng)5% （采用(yòng)5mm EFL鏡(jìng)頭測試） |
畸變(biàn) | 精度 <0.5% 可重復性 <0.05% |
OPD (在(zài)軸） | 精度(dù) 20nm rms 可重復(fù)性 <5nm rms |
場曲(qū) | 精度 <5um 可重復(fù)性 <1um |
光(guāng)學(xué)設計 | 有限或無(wú)限遠架(jià)構 |
波(bō)長範圍 | 400-1100nm/ 900-1700nm 3-5um/ 8-14um |
入瞳直徑(jìng) | 大 8.8mm |
口徑範圍(wéi) | 2 ～ 200mm |
F# | > 1.8 |
焦(jiāo)距範(fàn)圍 | 5 - 500mm |
法蘭距 | 8 - 30mm |
視場(cháng) | 可(kě)達 ±120° |
典(diǎn)型應用(yòng)：
自動駕(jià)駛(shǐ) 安(ān)防(fáng) 無人(rén)機 消(xiāo)費電(diàn)子
功(gōng)能示例：
l 像差(chà)及傳(chuán)遞函數測(cè)量
利用(yòng)455，530，660nm三個波(bō)長測試，在-90° ~ 90°視場(cháng)範圍內(nèi)均可(kě)獲取(qǔ)高(gāo)質量的(dí)結(jié)果。
l透(tòu)過波(bō)差測(cè)量
在任意(yì)位置測試(shì)透(tòu)過波(bō)差並與Zemax設計值(zhí)相(xiāng)比較，從而幫助設計工程(chéng)師高(gāo)效(xiào)的獲得(dé)優(yōu)設(shè)計。
l實時(shí)Zernike 係(xì)數測量(liáng)
可在光(guāng)學係(xì)統對位，調(tiáo)節(jié)的(dí)過程中實(shí)時(shí)測試各階Zernike係(xì)數；
可以人為“濾(lǜ)除”某些階次(cì)的Zernike係(xì)數，以(yǐ)幫(bāng)助(zhù)調(tiáo)節人(rén)員更好(hǎo)的理解(jiě)主要像(xiàng)差來源。
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