拉(lā)曼(màn)光譜與掃(sǎo)描電子(zǐ)聯用顯(xiǎn)微(wēi)鏡— （拉(lā)曼(màn)-SEM）

與TESCAN電鏡聯用的 RISE 顯微(wēi)鏡

世(shì)界*集(jí)成的(dí)拉(lā)曼成像與掃(sǎo)描(miáo)電(diàn)子顯微鏡(jìng)

RISE 顯(xiǎn)微(wēi)鏡(jìng)是(shì)一(yī)款(kuǎn)新型聯用顯微(wēi)鏡(jìng)，它將 SEM 和(hé)共聚(jù)焦拉曼(màn)成(chéng)像(xiàng)結合(hé)在一(yī)起。通過(guò) RISE 顯(xiǎn)微鏡，可(kě)以(yǐ)將超微結(jié)構表麵特性與(yǔ)分子化合(hé)物信息關聯(lián)起(qǐ)來。

RISE 顯(xiǎn)微(wēi)鏡將(jiāng)SEM 和alpha300共聚焦拉(lā)曼(màn)成(chéng)像(xiàng)顯(xiǎn)微(wēi)鏡的(dí)所(suǒ)有功能都融於(yú)一(yī)台(tái)儀(yí)器中(zhōng)：

在(zài)拉曼和 SEM 測量之(zhī)間快速，簡(jiǎn)便切(qiē)換(huàn)

自(zì)動將樣品從(cóng)一個測量(liáng)位置移動另一(yī)個位置

集(jí)成化軟件界麵(miàn)，方便用戶進(jìn)行(háng)測量控(kòng)製(zhì)

測量結(jié)果(guǒ)關聯與(yǔ)圖像(xiàng)疊加

獨(dú)立的(dí)SEM 和(hé)拉(lā)曼(màn)成(chéng)像性(xìng)能

與ZEISS電(diàn)鏡聯(lián)用(yòng)的 RISE 顯微(wēi)鏡

拉曼(màn)光(guāng)譜與(yǔ)掃描(miáo)電子(zǐ)聯用顯微(wēi)鏡RISE 顯微技(jì)術

利(lì)用(yòng) RISE 顯(xiǎn)微鏡，在整個測(cè)量程序中，可以(yǐ)將樣(yàng)品在 SEM 真空室內從(cóng)一(yī)個測(cè)量位(wèi)置自(zì)動轉移到(dào)另一個位置，從而(ér)簡(jiǎn)化了(liǎo)工作(zuò)流(liú)程(chéng)，大大(dà)提高(gāo)了儀器(qì)的(dí)易用(yòng)性。

主(zhǔ)要特(tè)點

l 掃(sǎo)描(miáo)電鏡可(kě)以(yǐ)對樣品(pǐn)進行各種(zhǒng)各(gè)樣的分析(xī)，而(ér)RISE技術把(bǎ)拉曼與(yǔ)電(diàn)鏡結合(hé)起(qǐ)來，使在(zài)電鏡內部(bù)直(zhí)接(jiē)分(fēn)析(xī)樣(yàng)品的(dí)化(huà)學(xué)組(zǔ)分(fēn)成為了可能(néng)

l 共聚焦拉曼顯微鏡

l WITec的RISE共(gòng)聚焦(jiāo)拉曼成像(xiàng)擁有(yǒu)電鏡(jìng)拉曼聯(lián)成(chéng)像(xiàng)速(sù)度，成(chéng)像靈(líng)敏(mǐn)度(dù)及成像空(kōng)間分辨(biàn)率(shuài)

l 拉(lā)曼(màn)光譜成像(xiàng)：連續(xù)掃描的(dí)拉曼高光譜全(quán)譜(pǔ)成像，每(měi)個樣品(pǐn)點(diǎn)都能獲(huò)得完(wán)整的(dí)拉曼光(guāng)譜

l 平(píng)麵2D和包(bāo)含深(shēn)度Z方(fāng)向的3D成像模式

l 532激(jī)發(fā)的拉曼mapping可獲(huò)得(dé)400nm的(dí)水平(píng)方向空間分(fēn)辨率

l 532激(jī)發的(dí)拉曼mapping可獲(huò)得900nm的豎(shù)直方向空(kōng)間分辨率(shuài)

l 超高(gāo)光(guāng)通(tōng)量(liáng)的透(tòu)鏡(jìng)式光(guāng)譜儀(yí)可(kě)獲得光(guāng)譜(pǔ)靈(líng)敏度及(jí)光(guāng)譜分(fēn)辨(biàn)率(shuài)性(xìng)能(néng)

l 超快(kuài)拉(lā)曼成(chéng)像(xiàng)選項可達(dá)到每張光譜0.76ms 的(dí)超快(kuài)采譜速度

l 非(fēi)破壞性成(chéng)像技術，無需(xū)對(duì)樣(yàng)品進(jìn)行染(rǎn)色(sè)或(huò)者(zhě)標(biāo)記(jì)