近場光(guāng)學顯微(wēi)鏡代(dài)替傳(chuán)統光(guāng)纖(xiān)探(tàn)針(zhēn)來增強(qiáng)樣(yàng)品(pǐn)的(dí)納(nà)米(mǐ)尺(chǐ)度區域的(dí)散射(shè),散(sàn)射(shè)信號可(kě)以在遠(yuǎn)場(cháng)被(bèi)檢(jiǎn)測到(dào),而(ér)這些散(sàn)射(shè)信號攜帶(dài)了樣品在金屬探針(zhēn)針尖(jiān)下納(nà)米級區域(yù)的復雜(zá)光(guāng)學(xué)性(xìng)質。
具體(tǐ)而(ér)言,這些散射光(guāng)的(dí)信息(xī)包括光的振幅和相位,通過適(shì)當(dāng)的模(mó)型(xíng),這些測量(liáng)可以(yǐ)估(gū)算出針尖下(xià)樣(yàng)品(pǐn)納(nà)米(mǐ)尺(chǐ)度(dù)區域(yù)材料(liào)的光(guāng)學常數,在某(mǒu)些情(qíng)況下(xià),光學相位(wèi)與(yǔ)波(bō)長(cháng)還提(tí)供了一(yī)個(gè)與(yǔ)同種(zhǒng)材料(liào)常(cháng)規吸收(shōu)光譜(pǔ)近似的(dí)光譜信息。
近場(cháng)光(guāng)學(xué)顯微(wēi)鏡建立(lì)在基(jī)於(yú)具(jù)有(yǒu)納(nà)米(mǐ)光學(xué)表征(zhēng)工具(jù)原(yuán)子力顯微鏡基礎之(zhī)上(shàng),高(gāo)度(dù)集(jí)成,全麵(miàn)自動化(huà),使(shǐ)用靈(líng)活,為(wéi)研究生產力和(hé)易(yì)用(yòng)性設(shè)定了(liǎo)新(xīn)的標準,適用(yòng)於(yú)硬質(zhì)材(cái)料(liào),特別是(shì)具有高反射率,高(gāo)介電常數或(huò)強光學(xué)共振的(dí)材(cái)料(liào),可以(yǐ)完(wán)成(chéng)對(duì)所(suǒ)有物(wù)質納米尺(chǐ)度(dù)的化學性質(zhì)分(fēn)析及(jí)探索。
一(yī),產品特點:
1,10nm空(kōng)間(jiān)分辨率近場(cháng)成像(xiàng)和(hé)光(guāng)譜;
2,快(kuài)速(sù)成像和(hé)采譜技術(shù),10倍(bèi)於傳(chuán)統的(dí)空(kōng)間光譜成(chéng)像(xiàng);
3,背景(jǐng)壓製(zhì)技術和光學(xué)信(xìn)號(hào)收集技術(shù),確保在(zài)10nm空(kōng)間(jiān)分辨率下仍然(rán)保持(chí)高的信噪比(bǐ);
4,預先(xiān)校(xiào)準光路,操(cāo)作(zuò)簡便(biàn);
5,模(mó)塊化(huà)設(shè)計,可拓展(zhǎn)性(xìng)強(qiáng);
近場(cháng)光(guāng)學是研究距離物(wù)體表(biǎo)麵(miàn)一(yī)個波(bō)長以(yǐ)內的(dí)光(guāng)學現(xiàn)象的新型交叉學科(kē),基於(yú)非輻(fú)射(shè)場的探測(cè)與成(chéng)像原理,近(jìn)場(cháng)光學顯(xiǎn)微鏡(jìng)突(tū)破(pò)常規(guī)光(guāng)學顯(xiǎn)微鏡(jìng)所受到(dào)的衍(yǎn)射極(jí)限,在超(chāo)高(gāo)光學分(fēn)辨率(shuài)下進行納米(mǐ)尺(chǐ)度光學成(chéng)像與納(nà)米(mǐ)尺度(dù)光譜(pǔ)研(yán)究(jiū)。
二(èr),技術參(cān)數(shù):
1 操作模(mó)式(shì):透射模(mó)式,反射模式,收(shōu)集模式,照明模式;
2 原子力(lì)顯微(wēi)鏡(jìng)操作模(mó)式(shì):敲擊模(mó)式(shì),接觸(chù)模式(shì)選配,所有探針或樣品(pǐn)掃(sǎo)描的操(cāo)作模式(shì);
3 微(wēi)分(fēn)幹涉(shè)對比(bǐ):反射和透射(shè);
4 折射(shè)率成像:反(fǎn)射和(hé)透射;
5 在綫(xiàn)遠場共聚焦和拉曼及熒光光譜成像:反(fǎn)射和(hé)透射,針(zhēn)對選(xuǎn)擇性(xìng)拉曼散(sàn)射超(chāo)薄膜的(dí)探針增強拉曼散射;
6 熱(rè)傳導(dǎo)及(jí)擴展電阻成(chéng)像:接觸模式(shì),敲(qiāo)擊模式(shì),音叉反(fǎn)饋模式無反饋(kuì)激(jī)光(guāng)引(yǐn)入幹擾信(xìn)號;熱(rè)探針可作(zuò)為(wéi)納米加熱(rè)器使用,納米熱(rè)分析,納米相(xiāng)轉變等(děng)應用。