概(gài)念(niàn)解釋：暗場顯微(英(yīng)文(wén)：Dark-field microscopy)或稱(chēng)暗(àn)視(shì)野(yě)顯微(wēi)(英(yīng)文：Dark ground microscopy)描述光(guāng)學顯微(wēi)和(hé)電子(zǐ)顯微(wēi)中的(dí)一(yī)種特殊(shū)顯(xiǎn)微手法，除去觀測(cè)物體以外的(dí)光(guāng)綫(xiàn)或電子進入物鏡，使(shǐ)目(mù)鏡中觀測到的視(shì)野背景(jǐng)是(shì)黑的(dí)，隻有(yǒu)物(wù)體的邊緣(yuán)是(shì)亮(liàng)的
。利用(yòng)這(zhè)個(gè)方(fāng)法(fǎ)能見(jiàn)到小至(zhì) 4~200nm的微(wēi)粒(lì)子(zǐ)，分(fēn)辨(biàn)率可(kě)比普通顯(xiǎn)微(wēi)法(fǎ)高(gāo)50倍
。
應用簡(jiǎn)介
暗場(cháng)顯微(wēi)技術(shù)采(cǎi)用光學顯微鏡結合特(tè)殊(shū)的照(zhào)明和(hé)觀(guān)察方式，使得隻有樣品(pǐn)大角度散射的光能(néng)夠進(jìn)入物(wù)鏡並(bìng)被(bèi)探(tàn)測(cè)到(dào)
。采用(yòng)暗(àn)場(cháng)顯(xiǎn)微技術(shù)，可以(yǐ)克服常規光(guāng)學顯(xiǎn)微（明(míng)場照明成像(xiàng)）針對均一樣(yàng)品中(zhōng)的(dí)微(wēi)小結構(gòu)成像時(shí)，透射或(huò)反射(shè)襯(chèn)度(dù)不足的(dí)問(wèn)題，使得微(wēi)小的結(jié)構在(zài)背景中(zhōng)得以突(tū)出呈(chéng)現，特(tè)別(bié)適(shì)合顆粒，纖維，小(xiǎo)尺(chǐ)度界麵(miàn)等的觀測
。