通(tōng)常(cháng)情況(kuàng)下
，平麵(miàn)晶體(tǐ)譜儀(yí)由(yóu)於(yú)器(qì)結(jié)構簡(jiǎn)單(dān)
，加工難度低(dī)而廣泛應(yīng)用於X射(shè)綫光(guāng)譜分析
，是(shì)一種*簡(jiǎn)單的X射(shè)綫光譜(pǔ)測(cè)量儀(yí)器(qì)。然(rán)而平麵(miàn)譜(pǔ)儀(yí)不(bù)具(jù)備(bèi)聚焦(jiāo)功能(néng)
，因(yīn)此收光效率(shuài)低(dī)
，譜綫強度弱。此外光源尺寸(cùn)對光(guāng)譜(pǔ)分(fēn)辨率(shuài)的(dí)影(yǐng)響明(míng)顯(xiǎn)
，不滿足(zú)高(gāo)光(guāng)譜分(fēn)辨的(dí)測量需(xū)求。彎(wān)曲(qū)晶(jīng)體譜(pǔ)儀(yí)通過(guò)將分光晶體衍射麵(miàn)彎曲成各種曲麵(miàn)而達到強(qiáng)聚(jù)焦的目標。

球麵彎(wān)曲晶體
，同時具(jù)備(bèi)色散與(yǔ)成像(xiàng)的二(èr)維特(tè)性(xìng)。結合晶體(tǐ)布(bù)拉(lā)格衍射和(hé)球(qiú)麵鏡聚(jù)焦特性
，在沒(méi)有狹縫或真(zhēn)空的情況(kuàng)下
，結合二(èr)維X射綫探(tàn)測器
，可以(yǐ)同(tóng)時得(dé)到(dào)光(guāng)譜和(hé)空(kōng)間分(fēn)辨(biàn)的X射(shè)綫(xiàn)光源(yuán)像。目(mù)前(qián)球麵(miàn)彎晶在慣性約束(shù)和磁約束(shù)等離(lí)子(zǐ)體診斷(duàn)中(zhōng)都得(dé)到(dào)了廣泛的應(yīng)用(yòng)。

等離(lí)子體離子(zǐ)溫(wēn)度
，旋(xuán)轉速度是(shì)表征(zhēng)聚變等離(lí)子體(tǐ)性(xìng)能(néng)的重(zhòng)要參數
，也是開展眾多等離(lí)子體(tǐ)物(wù)理問題(tí)研究的(dí)數據基礎(chǔ)。在托(tuō)卡馬(mǎ)克裝(zhuāng)置(zhì)中
，彎晶譜(pǔ)儀通過測量等(děng)離(lí)子(zǐ)體(tǐ)雜(zá)質譜(pǔ)綫的(dí)多普勒頻(pín)移(yí)與多普(pǔ)勒展寬來測量(liáng)離(lí)子(zǐ)溫度和(hé)旋(xuán)轉速度。

基於(yú)其(qí)不(bù)依賴於中性束注(zhù)入(rù)以(yǐ)及在(zài)各種(zhǒng)射頻(pín)波加熱下都(dū)能正常運行的特(tè)性(xìng)
，尤其(qí)適合(hé)純射頻波加(jiā)熱下等(děng)離子(zǐ)體溫(wēn)度(dù)的(dí)測量
，是(shì)托卡(qiǎ)馬克裝(zhuāng)置中(zhōng)的重(zhòng)要(yào)物(wù)理診(zhěn)斷(duàn)之一(yī)。