膜厚怎麼測(cè)量
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　　基體表麵(miàn)鍍(dù)膜(mó)或氣相沉膜是材料表(biǎo)麵工(gōng)程中的重(zhòng)要技(jì)術，膜的厚(hòu)度(dù)直接影響其性能，故需對(duì)其進(jìn)行(háng)有效測(cè)量。目(mù)前常(cháng)用(yòng)的(dí)膜厚測量方(fāng)法主要有(yǒu)磁性(xìng)法(fǎ)，渦(wō)流(liú)法，超(chāo)聲(shēng)波(bō)測(cè)厚法等。其(qí)中(zhōng)渦(wō)流膜厚測量儀，由於采(cǎi)用了單一渦流法的渦(wō)流(liú)塗(tú)層測(cè)厚儀可以實(shí)現無損地(dì)測量非磁性(xìng)金(jīn)屬基材(cái)上的各種非導電覆蓋(gài)層(céng)的厚度，如油(yóu)漆(qī)，橡膠，塑料，陽極氧化(huà)膜(mó)等(děng)，常應用(yòng)於(yú)測量(liáng)航空器，船舶，汽(qì)車，門窗(chuāng)以(yǐ)及(jí)各(gè)種(zhǒng)鋁製品表麵(miàn)的塗(tú)層，陽極氧(yǎng)化層還(huán)有油漆的(dí)厚度。

　　

　　工(gōng)作原理(lǐ)
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　　物質在被一定波長(cháng)的(dí)X射綫照射時(shí)，元素將(jiāng)處於(yú)激發狀態而(ér)發(fā)射出光子，形(xíng)成一(yī)種(zhǒng)特征(zhēng)X熒光射綫(xiàn)。每一種元素(sù)的能量都(dū)是(shì)一一(yī)對(duì)應(yīng)的(dí)，探測(cè)器在接收到(dào)元(yuán)素的特(tè)征X熒光(guāng)射綫之(zhī)後(hòu)，可以通過(guò)其(qí)中(zhōng)的光子能量(liáng)進行(háng)定性(xìng)分析，還可(kě)通過其(qí)中(zhōng)的光子量值進(jìn)行(háng)定量(liáng)分(fēn)析。

　　由於各個(gè)元素的(dí)特(tè)征X射綫(xiàn)能量恒定，和元素有(yǒu)一一對應的關係，所以我們(mén)可以(yǐ)根據(jù)所得到的(dí)特征(zhēng)X熒光(guāng)射綫能量，對被檢物進行(háng)定性分析。通過(guò)檢測(cè)到的光(guāng)子數(shù)量(liáng)，可以(yǐ)對被測物進(jìn)行定量(liáng)分(fēn)析(xī)。

　　1，塗覆層成分及厚(hòu)度分析(xī)
：對多(duō)層精準(zhǔn)測(cè)試
：多層合金(jīn)，上下元(yuán)素(sù)重復鍍層(céng)，輕元(yuán)素和有(yǒu)機(jī)物(wù)塗鍍層(céng)及滲(shèn)層(céng)的(dí)厚度及(jí)成分分(fēn)析(xī)；

　　2，環(huán)保檢(jiǎn)測解決(jué)方案
：對各種重(zhòng)金(jīn)屬及有(yǒu)害元素(sù)進(jìn)行檢測，測(cè)試檢(jiǎn)出(chū)限可(kě)達1ppm以下；

　　3，全元(yuán)素成分分(fēn)析
：可(kě)對各種(zhǒng)合金，礦石，土壤，珠寶首飾(shì)等(děng)等進(jìn)行元素(sù)成分分(fēn)析。