棱(léng)鏡(jìng)耦合測(cè)試儀采(cǎi)用棱鏡耦(ǒu)合方法(fǎ)測試(shì)樣(yàng)品(pǐn)折射(shè)率，可(kě)測(cè)試波長(cháng)633nm，935nm，1549nm處(chǔ)的折射率(shuài)值，通過(guò)軟件(jiàn)做(zuò)曲(qū)綫(xiàn)耦(ǒu)合科(kē)求(qiú)出(chū)任何波段(duàn)的模擬值(zhí)。

       測(cè)試儀(yí)提高了用戶(hù)友好(hǎo)的控(kòng)製程序，和新測(cè)量的功(gōng)能，允(yǔn)許(xǔ)測量從常(cháng)見(jiàn)到(dào)特殊(shū)的薄(báo)膜(mó)而不需依靠內(nèi)部係(xì)數或(huò)菜單(dān)式(shì)校準(zhǔn)曲(qū)綫(xiàn)，不(bù)必(bì)預(yù)先(xiān)知(zhī)曉(xiǎo)厚度及(jí)折(zhē)射率(shuài)，±.0005常(cháng)規(guī)折射率分辨率(shuài)-尤其在大批(pī)量生產時(shí)比(bǐ)其他技(jì)術更(gēng)具優勢（可(kě)獲得(dé)更高折射率(shuài)），通用化-沒(méi)有固定的(dí)薄(báo)膜(mó)/基底合(hé)並(bìng)菜(cài)單，可(kě)測(cè)量雙膜(mó)結構中的單膜厚度及(jí)折(zhē)射率，體(tǐ)材(cái)料(liào)或(huò)基底材料的高精(jīng)度折(zhē)射(shè)率測量，快速(sù)測量薄膜或漫反(fǎn)射(shè)光波導參(cān)數(shù)。

       測試(shì)儀將APD和(hé)PIN-TIA的(dí)耦合測試整合(hé)於(yú)一體(tǐ)，方(fāng)便使(shǐ)用，可高精度(dù)，快速檢(jiǎn)測(cè)Vbr，響應度(dù)和接收(shōu)信號(hào)強度，提供4個波(bō)長的調製(zhì)光源(yuán)，響應電(diàn)流測(cè)試條(tiáo)件(jiàn)可(kě)以選擇(zé)加(jiā)電壓Vbr-X，定點輸出X，係統(tǒng)自(zì)帶(dài)大尺寸液晶(jīng)顯示屏。棱鏡耦合測試儀可精確(què)顯示雪(xuě)崩電壓(yā)，響(xiǎng)應電(diàn)流(liú)等性能參數並提供示(shì)波(bō)器輸出(chū)接(jiē)口(kǒu)，方(fāng)便耦(ǒu)合觀測，采用無極旋鈕(niǔ)，方便(biàn)操(cāo)作並(bìng)帶有(yǒu)掉電(diàn)記憶功(gōng)能。

       電(diàn)壓(yā)電(diàn)源(yuán)和加(jiā)電開關具備緩(huǎn)衝電保護(hù)電路(lù)，防過充(chōng)，反衝(chōng)，ESD和(hé)浪(làng)湧(yǒng)等保護(hù)電(diàn)路，高(gāo)壓(yā)腳接地(dì)，測(cè)試(shì)雪崩電壓超過75V和(hé)TIA電流超(chāo)過設(shè)置(zhì)範圍(wéi)會停止測(cè)試(shì)保(bǎo)護器件(jiàn)，支持上(shàng)位機保存(cún)數(shù)據 並查(chá)詢(xún)，數(shù)據刷(shuā)新(xīn)速度達(dá)到(dào)5ms，查(chá)詢間隔10~15ms。