光譜(pǔ)式測(cè)量為CCFL，LED背(bèi)光LCD及OLED等平板(bǎn)顯示技術(shù)提(tí)供了(liǎo)zui高精度(dù)的(dí)亮(liàng)度(dù)，色(sè)度(dù)測量(liáng)。現有的光譜式測量(liáng)的主(zhǔ)要不足是需(xū)要(yào)很長的(dí)測(cè)試時間。Photo Research的(dí)A-TAKT™係列光譜(pǔ)式輻(fú)射度(dù)計(jì)彌補了這(zhè)一(yī)不(bù)足，實現了(liǎo)光譜(pǔ)式精(jīng)度的(dí)實時產(chǎn)綫(xiàn)測試。
A-TAKT™係(xì)列(liè)包(bāo)含(hán)三款(kuǎn)——V-7HS，V-7WD和V-6AQL，針對(duì)FPD產綫(xiàn)測試不同測試應用。具有(yǒu)如下總的(dí)特點：

1，V-7HS是三(sān)者中(zhōng)靈敏(mǐn)度zui高，測試(shì)速度zui快(kuài)的機型(xíng)，可(kě)在(zài)不(bù)影響(xiǎng)測試度(dù)和重(zhòng)復測試(shì)精度的前提下，zui短時間(jiān)內(nèi)實(shí)現zui大數量的(dí)產品測(cè)試——毫秒(miǎo)時間內實(shí)現低亮度(dù)測試(shì)，在僅250ms的(dí)測(cè)試(shì)時(shí)間(jiān)內(nèi)實現0.5cd/m²的(dí)微弱亮度測試(shì)（測試(shì)LED背光(guāng)LCD）；幾(jī)秒(miǎo)鐘(zhōng)內(nèi)實現(xiàn)完整的(dí)灰(huī)度等級(jí)，Gamma和色(sè)度(dù)測試（取(qǔ)決於(yú)亮度等(děng)級(jí)和測試數量）等。

V-7HS：高精度，快(kuài)速測量，針(zhēn)對於低亮測試應用

2，V-7WD則提(tí)供了(liǎo)高速(sù)測(cè)量的(dí)解(jiě)決(jué)方(fāng)案，針對(duì)高亮(liàng)背(bèi)光模組(zǔ)，LED模(mó)組等(děng)高度(dù)和重復精度(dù)的(dí)*化(huà)測(cè)試(shì)。具(jù)備(bèi)更(gēng)寬(kuān)的亮度(dù)測(cè)試範圍(wéi)：0.002-60000 cd/m²（如測試(shì)白(bái)光LED），近乎(hū)實時(shí)的(dí)快速，高，高重(zhòng)復性光譜輻(fú)射度計。

V-7WD：快(kuài)速(sù)，高光(guāng)譜(pǔ)分辨(biàn)率(shuài)，適(shì)用(yòng)於(yú)高亮發(fā)光源測(cè)試(shì)

3，而V-6AQL則(zé)專(zhuān)為(wéi)簡潔的工(gōng)業檢測量身定製，針對(duì)關鍵(jiàn)環節的(dí)測量(liáng)，如(rú)AQL，IQC及OQC等(děng)提供的解(jiě)決方案。一(yī)方麵(miàn)具有更低(dī)成本(běn)，另一方麵光譜式(shì)設(shè)計保證度(dù)和(hé)重復精度，滿(mǎn)足(zú)或(huò)優於客戶(hù)的生(shēng)產(chǎn)需求。

V-6AQL：經(jīng)濟(jì)，便攜的解決方(fāng)案，適(shì)用(yòng)於QC/QA測(cè)試

4，靈活的(dí)定製——由於產綫(xiàn)測(cè)試環(huán)境的不同(tóng)（如(rú)工(gōng)作距(jù)離，測(cè)試(shì)區域(yù)和係統控(kòng)製(zhì)接(jiē)口(kǒu)等(děng)），如(rú)上述表(biǎo)格，A-TAKT™係列提(tí)供(gōng)有不(bù)同(tóng)配(pèi)置(zhì)，包(bāo)括(kuò)鏡(jìng)頭(tóu)的(dí)定製（滿(mǎn)足(zú)不同工作(zuò)距離(lí)，光(guāng)斑尺(chǐ)寸的測試(shì)需(xū)求），易(yì)於(yú)開發的(dí)SDK包以更快捷，輕鬆(sōng)集(jí)成到用(yòng)戶的ATE係統， 針對不(bù)同測試對象的(dí)“EasyProfile”自(zì)分析(xī)技(jì)術等(děng)。