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技術文章
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技(jì)術文(wén)章
2019-715
近紅外(wài)光(guāng)譜(pǔ)儀是根據(jù)原子(zǐ)所發(fā)射的近紅(hóng)外光譜(pǔ)儀光(guāng)譜來測定物質的化學(xué)組分(fēn)的。在(zài)正(zhèng)常的(dí)情(qíng)況下,原子處於(yú)穩定狀態,它(tā)的能量(liáng)是低的,這(zhè)種狀態稱為基(jī)態。但當原子受(shòu)到(dào)能量(如(rú)熱能,電能(néng)等(děng))的作(zuò)用(yòng)時,原子由(yóu)於與高(gāo)速(sù)運(yùn)動的氣(qì)態(tài)粒(lì)子和(hé)電子相互(hù)碰撞而(ér)獲得(dé)了(liǎo)能量,使原(yuán)子中(zhōng)外層的電(diàn)子從(cóng)基態躍遷到(dào)更高的能(néng)級上,處(chǔ)在(zài)這(zhè)種(zhǒng)狀(zhuàng)態的(dí)原(yuán)子(zǐ)稱激發(fā)態。電子從基態(tài)躍(yuè)遷(qiān)至激發態所(suǒ)需的能量稱為激發(fā)電位,當(dāng)外加(jiā)的(dí)能(néng)量(liáng)足(zú)夠大(dà)時,原(yuán)子中(zhōng)的電子脫離原子核(hé)的束縛(fù)力(lì),使原子成為離子,這種過程(chéng)稱(chēng)為電(diàn)離。原(yuán)子失去一個電(diàn)子(zǐ)成為離子時所需要的能...
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2019-628
Double-Pass超(chāo)高分辨(biàn)率(shuài)光譜(pǔ)解(jiě)決方案光譜(pǔ)分辨率是任何(hé)一(yī)個光譜測試(shì)係(xì)統(tǒng)都(dū)不可回避的重要參(cān)數(shù)之一(yī)!對(duì)大(dà)多數的(dí)光譜測試係(xì)統,都對光譜分(fēn)辨(biàn)率(shuài)有一定的(dí)要(yào)求,比如,熒光光譜(pǔ),拉(lā)曼(màn)光譜,原子(zǐ)分(fēn)子(zǐ)光(guāng)譜,等離(lí)子體光(guāng)譜(pǔ)等等(děng),通(tōng)常而言(yán)對於傳統的(dí)物理實(shí)驗(yàn)室的經典(diǎn)C-T式(shì)光譜儀(yí)來(lái)說(shuō),實(shí)際上,分(fēn)辨(biàn)率(shuài)依(yī)賴於(yú)光(guāng)柵的分辨(biàn)本(běn)領,係統的(dí)有(yǒu)效(xiào)焦(jiāo)長(cháng),設定的(dí)狹(xiá)縫寬度,係統(tǒng)的(dí)光(guāng)學(xué)像差(chà)以(yǐ)及其(qí)它參(cān)數。R∝M·F/WM-光柵綫數F-譜(pǔ)儀(yí)焦(jiāo)距(jù)W-狹(xiá)縫寬(kuān)度(dù)在相同測試條(tiáo)件下(狹(xiá)縫不(bù)變),提(tí)升(shēng)光譜(pǔ)分(fēn)辨率的方(fāng)法通常有兩個:一是(shì)延...
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2019-628
由於(yú)真空紫外及(jí)軟X-RAY與(yǔ)可見光及紅外(wài)波(bō)段在很多光學傳輸(shū)性(xìng)質上的不同(tóng),比(bǐ)如,需要真(zhēn)空(kōng)環境,很低的(dí)反(fǎn)射率,無合(hé)適(shì)的(dí)“透(tòu)明(míng)”折(zhē)射率材(cái)料,成像(xiàng)困難,與物質相互作(zuò)用時(shí),表(biǎo)現出(chū)高能粒子的特性,少(shǎo)有衍(yǎn)射等等(děng)。由於其(qí)以上的種種特(tè)性,在(zài)其光(guāng)譜儀的設(shè)計(jì)上,一般需(xū)要(yào)遵循(xún)盡量減少光(guāng)路(lù)中的反射元件(jiàn),以及(jí)采(cǎi)取(qǔ)掠入(rù)射(shè)等(děng)原則。以下(xià)介紹幾種(zhǒng)常見真(zhēn)空(kōng)紫外以及(jí)軟X-ray光(guāng)譜儀的光學(xué)設(shè)計:1,C-T式(shì):CzernyTurner使用大量(liáng)的平(píng)麵光(guāng)柵與分(fēn)離聚焦(jiāo)和(hé)準直(zhí)鏡,是(shì)常(cháng)用(yòng)的(dí)一種結構。通(tōng)過光(guāng)柵旋(xuán)轉(zhuǎn)實現了(liǎo)綫性(xìng)波長定...
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2019-613
LCD\OLED激(jī)光修補模(mó)組LCD生產工(gōng)藝非常復雜(zá),在(zài)製(zhì)作過程(chéng)中(zhōng)會(huì)產生(shēng)很(hěn)多點(diǎn)缺陷,例(lì)如(rú)亮點,暗點,閃點(diǎn),還(huán)有碎亮點(diǎn)等(děng),這(zhè)些亮(liàng)點(diǎn)缺陷常常(cháng)給顯(xiǎn)示帶來(lái)一(yī)些缺陷,使麵(miàn)板等(děng)級(jí)偏低(dī),但(dàn)是可以(yǐ)通過(guò)暗(àn)點(diǎn)化,亮(liàng)點化(huà),ITO隔(gé)離(lí),激光炸射等(děng)方(fāng)法(fǎ)對其進(jìn)行修復(fù)或(huò)者淡(dàn)化(huà),可(kě)以修復(fù)缺陷(xiàn)和大大(dà)提升(shēng)產品良品率,產品等級(jí)。DPSS緊湊高穩定(dìng)性級(jí)別激(jī)光(guāng)器輸(shū)出波(bō)長:1064nm\532nm\355nm\266nm脈衝(chōng)頻率:1-100Hz脈(mài)衝寬度(dù):12+/-2ns脈(mài)衝(chōng)能量(liáng)&穩定性:激光器采用(yòng)標準(zhǔn),整個腔(qiāng)體用航(háng)空(kōng)鋁材...
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2019-612
激(jī)光光譜儀(yí)是利用(yòng)物質(zhì)對不同(tóng)波長(cháng)的(dí)紅外(wài)輻射的吸(xī)收(shōu)特(tè)性(xìng),進行分子結構和化(huà)學組(zǔ)成分(fēn)析(xī)的儀器(qì)。紅外(wài)光(guāng)譜(pǔ)儀(yí)通常(cháng)由光源,單(dān)色(sè)器(qì),探測(cè)器和(hé)計算(suàn)機處(chǔ)理(lǐ)信息係統(tǒng)組成。根據分光裝置的不同,分為色(sè)散型和(hé)幹(gān)涉(shè)型。由於色散(sàn)型(xíng)很少使用,目(mù)前廣泛使用的(dí)是(shì)幹(gān)涉型(xíng)的(dí)傅(fù)裏葉(yè)變(biàn)換紅外光譜儀,本文(wén)以幹涉(shè)型(xíng)的介紹(shào)為主(zhǔ)。激光光譜(pǔ)儀原理及(jí)特點激光光(guāng)譜儀被(bèi)稱(chēng)為第三代(dài)紅外光譜儀,利用麥(mài)克爾(ěr)遜幹涉儀將兩(liǎng)束光程差按(àn)一(yī)定速度(dù)變化的復色紅(hóng)外(wài)光相互(hù)幹(gān)涉(shè),形(xíng)成幹涉(shè)光(guāng),再(zài)與(yǔ)樣(yàng)品(pǐn)作用。探測器(qì)將得(dé)到的幹(gān)涉信號(hào)送入計(jì)算(suàn)機進行傅(fù)立葉變(biàn)換的數學(xué)處(chǔ)理...
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