勞(láo)厄相機是Photonic Science公司(sī)的(dí)核心產(chǎn)品(pǐn)之一。近(jìn)期(qī)，Photonic Science公司經理Daniel Brau對衍射勞厄(è)相(xiāng)機的工(gōng)作原理進(jìn)行(háng)係統(tǒng)介紹，並(bìng)且深入(rù)講解(jiě)了勞厄晶(jīng)體(tǐ)定向分析係(xì)統的(dí)*優(yōu)勢(shì)。
 
勞厄技術基本(běn)原理(lǐ)
勞(láo)厄(è)技術(shù)基(jī)於反(fǎn)射(shè)幾何學(xué)，將(jiāng)復色的弱(ruò)X射綫(xiàn)激發源(yuán)穿(chuān)過(guò)探測(cè)器打到(dào)樣品(pǐn)上，樣(yàng)品反(fǎn)射X射(shè)綫(xiàn)束(shù)，形(xíng)成(chéng)一組衍射點(diǎn)並(bìng)直(zhí)接記錄在(zài)探測(cè)器上。衍(yǎn)射圖形(xíng)的(dí)參(cān)數對(duì)於每一(yī)個(gè)晶(jīng)體都是(shì)特(tè)定的，可(kě)用於(yú)材(cái)料分析(xī)和物理生長過程(chéng)分(fēn)析(xī)，切割具(jù)有電(diàn)光(guāng)特(tè)性的晶(jīng)體。

中心軸校(xiào)準(zhǔn)後的(dí)藍寶石樣品(pǐn)勞厄(è)斑(bān)點

勞厄(è)衍射到(dào)底是(shì)什麼？
如(rú)果(guǒ)我們深入(rù)研究(jiū)一下勞厄(è)相機的物理原理，可(kě)以發(fā)現實際上是X射(shè)綫與(yǔ)單晶(jīng)或者合金上(shàng)的電(diàn)子雲相(xiāng)互(hù)作用(yòng)。如(rú)果(guǒ)反射(shè)光(guāng)滿足(zú)布拉格(gé)定律(lǜ)，就會被(bèi)記(jì)錄在勞(láo)厄探測器(qì)上，這(zhè)是一(yī)個(gè)相對來說簡(jiǎn)單(dān)的(dí)公式(shì)，它(tā)允許(xǔ)你根據晶(jīng)體(tǐ)的(dí)特(tè)定方(fāng)向(xiàng)來定(dìng)位這些點。
布拉(lā)格定律(lǜ)：當X射(shè)綫束的入射角(jiǎo)滿足晶(jīng)麵間X射綫路徑長度(dù)的差值為波(bō)長的(dí)整數倍時(shí)，就會發生(shēng)相(xiāng)長幹(gān)涉，產(chǎn)生(shēng)衍(yǎn)射(shè)光束(shù)

怎(zěn)樣(yàng)得(dé)到(dào)勞厄(è)衍(yǎn)射(shè)圖樣？
假設實驗(yàn)時(shí)，需要(yào)沿晶體方向(xiàng)測量 確(què)度(dù)＜0.1°的斜切(qiē)角度(dù)。首先，通過理論(lùn)模擬設(shè)計實(shí)驗，並(bìng)檢測記(jì)錄(lù)相(xiāng)對(duì)於理論點位置(zhì)的(dí)偏(piān)差。PSEL勞(láo)厄軟件(jiàn)內置(zhì)布拉格方程(chéng)，可以(yǐ)準(zhǔn)確計算晶格三個角(jiǎo)軸(zhóu)上定(dìng)位方程。

PSEL勞厄軟(ruǎn)件

 
勞(láo)厄(è)係(xì)統的主要構(gòu)架是(shì)什麼(mó)？
PSEL勞厄(è)係(xì)包(bāo)含高亮(liàng)度微(wēi)區(qū)X射(shè)綫(xiàn)源，低噪(zào)聲，大麵(miàn)積(jī)X射綫探測器(qì)，以及手(shǒu)動(dòng)或(huò)電動位(wèi)移(yí)台用(yòng)於放(fàng)置樣(yàng)品。之(zhī)前的(dí)勞(láo)厄(è)相機多(duō)采(cǎi)用2kWX射(shè)綫(xiàn)源，這需(xū)要配備(bèi)復(fù)雜(zá)的(dí)冷卻(què)裝置(zhì)和耗電設(shè)備(bèi)，PSEL公司的(dí)勞厄係統選(xuǎn)用25瓦X射綫(xiàn)激(jī)發(fā)源(yuán)，有效解決(jué)上述(shù)問(wèn)題。
 
可以(yǐ)簡(jiǎn)單(dān)介紹(shào)一(yī)下勞(láo)厄係(xì)統嗎(má)？
PSEL公(gōng)司(sī)的(dí)勞(láo)厄(è)相(xiāng)機選用(yòng)更(gēng)小(xiǎo)的(dí)X射綫(xiàn)激發光源激發樣品，可(kě)檢測(cè)亞毫米級(jí)的(dí)樣品。結合大麵積(jī)，高分辨(biàn)率(shuài)探測(cè)器，我(wǒ)們可以將定向(xiàng)精度降(jiàng)到0.05°。PSEL公司的勞(láo)厄係統的結構設(shè)計滿(mǎn)足(zú)晶(jīng)片，大型鑄錠以(yǐ)及(jí)渦輪(lún)合金(jīn)等(děng)更大的(dí)部(bù)件使用需(xū)求。

垂直(zhí)勞(láo)厄係(xì)統

 
PSEL公司的(dí)勞厄相機(jī)和市場(cháng)上的(dí)其(qí)他(tā)相(xiāng)機還有(yǒu)什麼不同(tóng)？
PSEL公司(sī)的勞厄相(xiāng)機(jī)的X射(shè)綫激發源的(dí)光(guāng)束尺(chǐ)寸(cùn)遠(yuǎn)小於市(shì)場上的(dí)其他(tā)相(xiāng)機，因此可(kě)以(yǐ)用(yòng)於分(fēn)析晶(jīng)粒(lì)的結(jié)構(gòu)/方向(xiàng)。該(gāi)係(xì)統(tǒng)可以(yǐ)自動獲(huò)取多達(dá)10000個大(dà)型(xíng)多晶樣品(pǐn)的取(qǔ)向(xiàng)測(cè)量(liáng)，在(zài)太陽能(néng)電池(chí)方(fāng)麵，有(yǒu)助於了(liǎo)解晶(jīng)粒取(qǔ)向對電池效率(shuài)的影(yǐng)響(xiǎng)。
  

多(duō)晶矽晶片(piàn)掃描器(qì)
 

為什麼(mó)要選用PSEL勞(láo)厄相機配(pèi)件？
PSEL勞厄相機(jī)可以(yǐ)根(gēn)據(jù)客戶的環(huán)境和(hé)要求定製。可提供係統解(jiě)決(jué)方(fāng)案，例(lì)如：樣(yàng)品(pǐn)架(jià)，角(jiǎo)度計，掃(sǎo)描台等，方(fāng)便用戶(hù)在轉移到合適(shì)的切(qiē)割工(gōng)具前，對(duì)晶(jīng)體進行常(cháng)規(guī)校準(zhǔn)。
探(tàn)測(cè)器材(cái)料如CdTe，GaAs，微(wēi)電(diàn)子(zǐ)基片如(rú)GaN，壓電材料和矽片切割可實現批次(cì)自(zì)動測量。PSEL勞厄相機(jī)提供的(dí)樣(yàng)品(pǐn)架(jià)可通過(guò)軟(ruǎn)件一(yī)次性采(cǎi)集多達(dá)100個樣品。
PSEL勞厄(è)相機可(kě)容(róng)納10-100kg樣(yàng)品(pǐn)，可用於激光材料(liào)，大(dà)體積(jī)藍寶石等(děng)樣品檢測。
PSEL勞(láo)厄相機配(pèi)置(zhì)多(duō)點(diǎn)掃描程序(xù)的(dí)高(gāo)精密(mì)位移(yí)台(tái)，可(kě)以實(shí)現對(duì)氮化鋁等薄(báo)膜(mó)方向(xiàng)的(dí)控製(zhì)。
 
勞厄晶(jīng)體(tǐ)定(dìng)向(xiàng)係統

 
您(nín)還(huán)有什(shí)麼(mó)感(gǎn)興趣的嗎？
PSEL公司(sī)初(chū)期(qī)是(shì)為(wéi)科研(yán)客(kè)戶提供(gōng)相(xiāng)機，通過(guò)多年的(dí)市(shì)場推廣(guǎng)，已經能麵向工業客戶(hù)為(wéi)其提供係統解(jiě)決(jué)方(fāng)案。不同於老式昂(áng)貴的(dí)勞厄相機，本產品是為(wéi)工業定(dìng)製(zhì)，目(mù)前已(yǐ)有(yǒu)超(chāo)過200個係統(tǒng)在運(yùn)行(háng)。

如果您(nín)對(duì)Daniel的問答環節感(gǎn)興趣(qù)，想了解更多關於(yú)我(wǒ)們勞(láo)厄(è)相機(jī)的信息(xī)，可聯(lián)係我公司：北(běi)京先鋒泰坦科技有限公(gōng)司(sī)！